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        Mura缺陷嚴重影響產品畫質、造成產品良品率低下,影響生產企業的利潤,隨著終端客戶對OLED產品的畫質的要求越來越高和OLED制造過程的工藝不斷完善,使用DEMURA設備對mura缺陷進行修復成為各品牌廠商重要的品控手段。
        項目概述
        天準De-mura 設備 采用天準創新檢測技術和圖像處理算法,有效去除摩爾紋等光學干擾,輸出高精度像素級亮度數據,可在OLED 面板OTP 工藝段之后良好的應用,有效改善亮度不均,補償后亮度差小于1nit,補償良率≥98% 。
        方案優勢
        1、天準自主研發視覺算法,進行像素級定位、灰度提取等分析,匹配IC完成Demura流程
        2、De-mura補償良率98%以上,補償后mura區域與正常區域亮度差異在1nit級別
        3、通用性強,異形屏、柔性屏、多種IC型號均可對應
        4、兼容面板尺寸 3 - 8 inch
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