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        MueTec 成立于1991年,總部位于德國慕尼黑。致力于開發高精度光學測量和檢測解決方案,幫助全球半導體和微電子行業的客戶提高他們的生產良率和過程控制已有近30年歷史.

        MueTec 在亞微米級的檢測和測量領域有著豐富的經驗和長期的聲譽,在過去30年里,已經在世界各地安裝了超過300套半導體光學測量和檢測系統,在不同的工藝條件下為客戶持續提供可靠的數據與無與倫比的重復性.

        MueTec 的技術專家團隊傾聽、響應和預測全球的晶圓、掩膜、MEMS、MOEMS 制造商的需求,并以極低的維護要求提供定制化和標準的解決方案。可擴展的系統允許在一個系統中結合多種不同的應用,包括關鍵尺寸( CD)、套刻(Overlay)和薄膜厚度(Film Thickness)測量,以及缺陷檢測(Defect Inspection)和缺陷 Review.

        2020年與天準科技簽訂全資收購協議.

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